Kaoru Ishikawa, profesor Uniwersytetu Tokijskiego, opublikował
założenia swojego wykresu w 1962 roku. Celem tej metody jest
rozpoznanie przyczyn poniesionych lub potencjalnych niepowodzeń
przedsięwzięć. Z tego powodu nazywa się ją także wykresem
przyczynowo-skutkowym, a ze względu na charakterystyczny wygląd -
wykresem rybiej ości. Zakres stosowania tej metody początkowo był
ograniczony jedynie do przemysłu, lecz w krótkim czasie okazała się ona
przydatna w wielu innych dziedzinach.
Z powodzeniem można go używać w usługach, administracji, zarządzaniu
projektami.
Sporządzanie wykresu musi być wysiłkiem wielu pracowników organizacji,
ponieważ przyczyny niepowodzeń mają swoje źródła zwykle w różnych
dziedzinach działania. Dlatego zespół powinien składać się z ludzi o
dużej wiedzy specjalistycznej, którzy dodatkowo posiadają wolę
ujawnienia przyczyn wadliwości, w tym także spowodowanych przez siebie.
Bardzo przydatne jest stosowanie w trakcie budowy schematu metod
heurystycznych.
Budowa
diagramu Ishikawy
Wykres składa się ze strzałek wraz z opisami, łączących się w ten
sposób, że główna strzałka wskazuje skutek, czyli opis niepowodzenia,
które jest badane. Przedstawiono to na rys.1.
Rys.1. Zasada budowy wykresu Ishikawy
Pokazane na rysunku kategorie przyczyn zwykle wybierane są z zestawu
5M:
- człowiek (Man),
- maszyna (Machine),
- materiał (Material),
- stosowana metoda (Method),
- kierownictwo (Management),
Spotyka się również inne zestawy, np. 5M+E gdzie do ww dochodzi
jeszcze otoczenie (Environment) lub układ 6M gdzie do ww dochodzi pomiar
(Mesurement).
Można także używać innych kategorii (np. procedury, wyposażenie,
materiały, informacje, ludzie) zależnie od dziedziny, w jakiej wykres
jest stosowany. Każda kategoria przyczyn jest rozbudowywana o kolejne
przyczyny szczegółowe. Jeżeli zachodzi taka potrzeba, dołącza się także
podprzyczyny. Rozbudowa wykresu kończy się w momencie pełnego
zidentyfikowania zjawiska.
Zastosowanie diagramu Ishikawy
E. Kindlarski zaproponował stosowanie układu przedmiotowego lub
technologicznego przyczyn. W pierwszym kategorie stanowią podzespoły
analizowanego obiektu, a przyczyny - elementy tych podzespołów. W drugim
układzie wykorzystuje się odpowiednio procesy technologiczne i operacje
w tych procesach. Przykłady takich zastosowań pokazują rys. 2 i 3.
Rys.2. Układ przedmiotowy przyczyn (Źródło: E.
Kindlarski 1995, s.5.)
Rys.3. Układ technologiczny przyczyn (Źródło: E.
Kindlarski 1995, s.5)
.
W praktyce czyste układy występują rzadko, zwykle złożoność przyczyn
wymaga zastosowania układu mieszanego.
Wykorzystanie diagramu Ishikawy
Prawidłowo sporządzony wykres Ishikawy może posłużyć do stworzenia
liczbowego systemu klasyfikacji wad. Liczbę znaków kodu można określić w
zależności od żądanego stopnia szczegółowości. Rozpatrując fragment
wykresu z rys.2 można otrzymać zestaw kodów zaprezentowany na rys. 3. W
tym przypadku kod ma trzy znaki:
- pierwszy oznacza kategorię przyczyn,
- drugi oznacza przyczynę,
- trzeci oznacza podprzyczynę.
|
100
110
111
112
120
121
122
123
124
|
elementy elektroniczne
wady elektryczne
tolerancje
parametry
wady mechaniczne
oznakowanie
końcówki
gabaryty
średnice
|
200
210
211
212
220
221
222
230
231
232
233
234
240
241
242
243
244 |
płytki drukowane
nadruk przy zmianach
za dużo
brak
otwory
za duże
średnice
ścieżki
odklejone
pęknięte
niedotrawienie
przetrawienie
oznaczenia
nieczytelne
pomylone
brak
sitodruk |
Rys.4 Przykład sporządzenia kodu
Jeżeli zespół sporządzający wykres posiada dane, które pozwolą na
przedstawienie przyczyn w formie liczbowej, można wykorzystać
zaproponowany przez Sankey\'a zbilansowany wykresy rybich ości (rys.5).
Rys.5 Wykres zbilansowany Sankey\'a określający
udziały procentowe przyczyn powstawania błędów (Źródło: E. Kindlarski
1995 s.9.)
autor:
Sławomir Wawak, Rafał Tochman
Oryginalna wersja artykułu
Copyright (c) 2007
Sławomir Wawak, Rafał Tochman
Udziela się zezwolenia do kopiowania rozpowszechniania lub modyfikację
tego dokumentu zgodnie z zasadami
Licencji GNU Wolnej Dokumentacji w wersji 1.1 lub dowolnej późniejszej
opublikowanej przez Free Software Foundation.
Zmienione w stosunku do oryginału: sekcja "Budowa diagramu Ishikawy",
tytuły poszczególnych sekcji
Strona główna
